Gence tech 精視科技
預約樣品打樣
高階載板 · 光電半導體 · 微米級自動化光學檢驗 (AOI)

高密度載板全域 AOI 檢測系統
消滅 98% 抽檢盲區 · 實現 100% 產線在線全檢

精視科技(Gence tech)專注於工業機器視覺與高階光機電整合,結合傳統幾何演算法與 AI 深度學習雙引擎。針對 Mini/Micro LED 載板、半導體封裝及精密金屬加工,將人工近 1 小時的全檢流程縮短至 50 秒 內完成。

100% 台灣自主研發光機電 • 支援 SECS/GEM & MES/SPC • 新竹竹北展示中心現貨調測
SYSTEM BENCHMARK ON-LINE
實線量產標準
雙面全域量測節拍 (Tact Time) < 50 秒
單面取像掃描時間 < 20 秒
單片晶粒檢驗總數 (Dies / Pads) 378 顆 / 756 處
量測覆蓋率 (Inspection Coverage) 100% 全域在線全檢
相較人工全檢等效產能
人工約 50 分鐘 vs 機台 50 秒
60x 躍升
QUANTIFIABLE RETURN ON INVESTMENT

產能節拍與良率管控的雙重突破

100%
全域零死角覆蓋

打破傳統 5 點抽檢盲區,雙面 756 處焊墊全數掃描,徹底杜絕客戶退貨風險。

< 50s
秒級雙面檢測週期

單面取像 20 秒,全週期 50 秒完測,直接在連線製程中落實在線全檢。

60x
全檢等效產能提升

雙面全檢人工需耗時近 1 小時,設備 50 秒精準完成,大幅釋放產線人力。

FACTORY PAIN POINTS VS. AUTOMATION

產線人工目檢盲區與自動化升級對照

不只解決檢測節拍,更化解三班輪值人事成本、客退賠償風險與大廠稽核數據斷層。

✕

傳統人工目檢 / 工具顯微鏡抽測

  • ✕
    妥協抽檢:僅測四角與中心 5 點,高達 98% 晶粒處於未檢盲區,瑕疵漏網客退風險極高。
  • ✕
    全檢癱瘓:單片人工抽檢即耗時 20 分鐘;若要 100% 全檢需耗時近 1 小時,產能節拍直接卡死。
  • ✕
    人眼疲勞浮動:長時間高倍顯微鏡目檢造成眼力疲憊、判定標準隨輪班浮動,過殺與漏檢頻傳。
  • ✕
    人力負擔沉重:高度依賴資深目檢員,流動率高、新人培訓耗時,且三班輪值人事支出沉重。
  • ✕
    紙本紀錄斷層:紙本或單機紀錄無法即時連線預警,難以因應國際車規與一線大廠供應鏈稽核。
✓

Gence 全域 2D AOI 光學量測檢驗系統

  • ✓
    100% 全域在線全檢:378 顆晶粒雙面 756 處焊墊全數掃描,實現真正零死角覆蓋。
  • ✓
    極速在線節拍:單面取像 20 秒,全檢雙面 50 秒內完測,直接融入連線在線製程。
  • ✓
    客觀穩定微米標準:微米演算法與 AI 雙引擎判讀,杜絕人為漏檢,捍衛出廠信譽。
  • ✓
    大幅精實目檢人力:單人輕鬆操作監控多台機台,降低 70% 目檢人力與三班輪值壓力。
  • ✓
    完整數位生產溯源:Die-level 檢測數據與缺陷座標即時拋轉 MES/SPC,秒級因應稽核。
PROPRIETARY SOFTWARE ARCHITECTURE

自主研發之核心視覺軟體演算法平台

擺脫國外套裝軟體黑盒子限制,完全掌握底層算子與二次開發彈性,因應特殊製程量身定制。

01 / NO-CODE WORKFLOW

免程式圖形化介面

拖拉式流程設定與視覺化邏輯配置,製程與設備工程師皆能在 15 分鐘內快速完成新料號換線建檔與量測公差設定。

02 / HARDWARE AGNOSTIC

面陣與線陣跨平台相容

支援靜態大視野拍照、高速動態飛拍及連續捲對捲 (R2R) 線陣掃描,具備高彈性相機與光源硬體控制相容性。

03 / 200+ OPERATORS

200+ 工業級幾何算子

次像素邊緣擷取、灰階幾何匹配、形位公差尺寸量測與高精度光學校準,量測重複精度穩定達到微米水準。

04 / HYBRID DUAL-ENGINE

幾何 + AI 深度學習雙引擎

專攻複雜金屬反光表面、非規則微裂紋、殘銅毛邊與異物髒污檢測,將產線誤判過殺率(Overkill)壓低至極限。

INSPECTION CAPABILITIES

六大產線核心視覺模組能力

MODULE 01

機械手臂定位引導 (Alignment)

精準回傳 X/Y/θ 偏差補償值,引導工業手臂與高精度對位滑台完成極速取放與點膠對位。

MODULE 02

精密幾何尺寸量測 (GD&T)

微米級線寬線距、焊墊間距、真圓度、孔徑及多點輪廓形位公差批量高速自動量測。

MODULE 03

外觀微細瑕疵檢驗 (Defect Detection)

精準識別微米級刮傷、開短路、殘銅、崩角與異物髒污,具備自動缺陷分類與坐標標註。

MODULE 04

高速動態計數 (Visual Counting)

適用於高速流水線零件、重疊顆粒與密集排料計數,即時檢出多件少件並觸發氣嘴剔除。

MODULE 05

在位有無與防呆辨識 (Poka-Yoke)

組裝線零件遺漏、倒角裝配方向、鎖螺絲在位及正反面辨識,杜絕人為組裝疏漏缺陷流入下一站。

MODULE 06

光學字元與條碼辨識 (OCR / Barcode)

雷雕金屬表面 DPM 碼、DataMatrix、QR Code 及印刷序號高速辨識與等級評分驗證。

PROVEN PRODUCTION CASE STUDY

RangeVision 2D
光電載板雙面晶粒在線量測機台

成功導入台灣一線光電製造產線。針對高密度 MID-LED 載板正反兩面共 378 顆晶粒(756 處焊墊),在 50 秒內 完成雙面全檢取像、座標對位修正與微米尺寸公差合格判定。

單面量測晶粒總數
378 Dies / 面
單面取像掃描節拍
< 20 秒
雙面全檢循環時間
< 50 秒完測
全檢產能等效躍升
60x 效率翻倍

機台檢驗指標規格一覽

焊墊邊界與圓心間距 (Pitch) 微米精確度 (Micron)
正反兩面晶粒對位偏差 (Front/Back Shift) 實時 X/Y/θ 座標補正
微裂紋、殘銅與開短路檢測 AI 輔助零漏檢
基板翹曲動態補償 (Warp Compensation) 動態光學追焦補償
工控連線通訊協定 SECS/GEM & MES/SPC 標準協定
PROOF OF CONCEPT (POC)

提供工件樣品
立即安排免費光學校驗打樣

為協助貴司降低新製程光學導入評估風險,精視科技提供 Free PoC(概念驗證)服務。提供樣品圖片或圖面當日即可出具可行性光學報告;提供實體工件即排入專案打樣驗證。

P 專案負責人:陳昭志 (Jeremy Chen) · +886 912 072138
M 官方業務信箱:jeremy@gencevision.com
W 官方網站:www.gencevision.com
A 位置:新竹縣竹北市高鐵特區

線上打樣與評估諮詢 (RFQ)

收到您的樣品資訊後,專案工程團隊將在 24 小時內與您聯繫。